STATE: A Test Structure for Rapid Prediction of Resistive RAM Electrical Parameter Variability - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

STATE: A Test Structure for Rapid Prediction of Resistive RAM Electrical Parameter Variability

Fichier principal
Vignette du fichier
ISCAS_Final_sub_afterREV.pdf (1.09 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03941188 , version 1 (22-03-2023)

Identifiants

Citer

Hassen Aziza, Jeremy Postel-Pellerin, Hussein Bazzi, Mathieu Moreau, Adnan Harb. STATE: A Test Structure for Rapid Prediction of Resistive RAM Electrical Parameter Variability. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) 2022, May 2022, Austin, United States. pp.3532-3536, ⟨10.1109/ISCAS48785.2022.9937716⟩. ⟨hal-03941188⟩
10 Consultations
48 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More