Caractérisation de multicouches nanométriques par PIXE-Kossel
Meiyi Wu
(1)
,
Karine Le Guen
(2)
,
Jean-Michel André
(2)
,
V. Ilakovac
(2)
,
Jiaping Zhang
(2)
,
Christopher Pendenque
(2)
,
Ian Vickridge
(3, 4, 5)
,
Didier Schmaus
(4)
,
Briand Emrick
(3, 5, 6, 4)
,
Sébastien Steydli
(4)
,
Philippe Walter
(7)
,
Philippe Jonnard
(2)
,
Quishi Huang
(8)
,
Zhanshan Wang
1
LCPMR -
Laboratoire de Chimie Physique - Matière et Rayonnement
2 LCPMR - Laboratoire de Chimie Physique - Matière et Rayonnement
3 SU - Sorbonne Université
4 INSP - Institut des Nanosciences de Paris
5 INSP-E5 - Couches nanométriques : formation, interfaces, défauts
6 SAFIR - Système d'Analyse par Faisceaux d'Ions Rapides
7 LAMS - Laboratoire d'Archéologie Moléculaire et Structurale
8 IPOE - Institute of Precision Optical Engineering [Shangai]
2 LCPMR - Laboratoire de Chimie Physique - Matière et Rayonnement
3 SU - Sorbonne Université
4 INSP - Institut des Nanosciences de Paris
5 INSP-E5 - Couches nanométriques : formation, interfaces, défauts
6 SAFIR - Système d'Analyse par Faisceaux d'Ions Rapides
7 LAMS - Laboratoire d'Archéologie Moléculaire et Structurale
8 IPOE - Institute of Precision Optical Engineering [Shangai]
Karine Le Guen
- Fonction : Auteur
- PersonId : 870703
- ORCID : 0000-0003-1330-2027
- IdRef : 061105880
Jean-Michel André
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1006614
V. Ilakovac
- Fonction : Auteur
- PersonId : 754204
- IdHAL : vita-ilakovac
Ian Vickridge
- Fonction : Auteur
- PersonId : 13477
- IdHAL : ian-vickridge
- ORCID : 0000-0002-1817-3378
- IdRef : 164664602
Briand Emrick
- Fonction : Auteur
- PersonId : 182823
- IdHAL : emrick-briand
- IdRef : 253135796
Sébastien Steydli
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1208918
- ORCID : 0000-0003-1358-639X
Philippe Walter
- Fonction : Auteur
- PersonId : 174469
- IdHAL : philippe-walter
- ORCID : 0000-0002-1804-8374
- IdRef : 077836553
Philippe Jonnard
- Fonction : Auteur
- PersonId : 3510
- IdHAL : philippe-jonnard
- ORCID : 0000-0001-6162-1706
- IdRef : 089424697
Zhanshan Wang
- Fonction : Auteur
- PersonId : 923489
Résumé
Il est possible de connaître l'état physico-chimique d'un atome en examinant son spectre d'émission X. Pour cela une bonne résolution spectrale est nécessaire. En conséquence le rayonnement polychromatique émis par l'échantillon doit être analysé en spectroscopie à dispersion de longueur d'onde (ou WDS, wavelength dispersive spectrometry). Les spectromètres WDS comportent un élément dispersant le rayonnement X, cristal, pseudo-cristal ou réseau, et un détecteur.