Dynamic Sampling for Risk Minimization in Semiconductor Manufacturing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03916718 , version 1 (30-12-2022)

Identifiants

Citer

Etienne Le Quere, Stephane Dauzere-Peres, Karim Tamssaouet, Cedric Maufront, Stephane Astie. Dynamic Sampling for Risk Minimization in Semiconductor Manufacturing. 2020 Winter Simulation Conference (WSC), Dec 2020, Orlando, United States. pp.1886-1897, ⟨10.1109/WSC48552.2020.9384001⟩. ⟨hal-03916718⟩
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