Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Stéphanie Lamaison : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03890580
Soumis le : jeudi 8 décembre 2022-16:19:41
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:29
Citer
Thais Luana Vidal de Negreiros da Silva, Guo-Neng Lu, P. Pittet. Breakdown Voltage Shift of CMOS Buried Quad Junction (BQJ) Detector. 2018 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), Nov 2018, Lyon, France. pp.1-6, ⟨10.1109/DCIS.2018.8681493⟩. ⟨hal-03890580⟩
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