Breakdown Voltage Shift of CMOS Buried Quad Junction (BQJ) Detector - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Breakdown Voltage Shift of CMOS Buried Quad Junction (BQJ) Detector

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03890580 , version 1 (08-12-2022)

Identifiants

Citer

Thais Luana Vidal de Negreiros da Silva, Guo-Neng Lu, P. Pittet. Breakdown Voltage Shift of CMOS Buried Quad Junction (BQJ) Detector. 2018 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), Nov 2018, Lyon, France. pp.1-6, ⟨10.1109/DCIS.2018.8681493⟩. ⟨hal-03890580⟩
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