Communication Dans Un Congrès
Année : 2020
Sami Hlioui : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03840670
Soumis le : samedi 5 novembre 2022-20:22:12
Dernière modification le : vendredi 24 novembre 2023-14:22:30
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03840670 , version 1
- DOI : 10.1109/ICD46958.2020.9341983
Citer
V. Bolgova, S. Kolesnikov, A. Leonov, Stéphane Lefebvre, S. Hlioui. Effect of High Switching Frequencies on Enamel Insulation Degradation of Motors Fed by SiC-based Inverters. 2020 IEEE 3rd International Conference on Dielectrics (ICD), Jul 2020, Valencia, Spain. ⟨10.1109/ICD46958.2020.9341983⟩. ⟨hal-03840670⟩
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