Article Dans Une Revue
Proceedings of the IEEE
Année : 2010
Elizabeth Colin : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03822609
Soumis le : jeudi 20 octobre 2022-14:21:51
Dernière modification le : vendredi 19 juillet 2024-11:38:04
Citer
Alain Moretto, Elizabeth Colin, Christian Ripoll, Sarah Abou Chakra. Shunt Behavior in RFID UHF Tag According to ISO Standards and Manufacturer Requirements. Proceedings of the IEEE, 2010, 98 (9), pp.1550-1554. ⟨10.1109/JPROC.2010.2053510⟩. ⟨hal-03822609⟩
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