Novel Built-In Test Equipment for Phase Measurement in Millimeter-Wave Phased Arrays Integrated Circuits With Absolute Phase Measurement Capabilities - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques Année : 2022

Novel Built-In Test Equipment for Phase Measurement in Millimeter-Wave Phased Arrays Integrated Circuits With Absolute Phase Measurement Capabilities

Adam Waks
NXP Semiconductors [France]
Serge Bardy
  • Fonction : Auteur
NXP Semiconductors [France]
Olivier Crand
  • Fonction : Auteur
NXP Semiconductors [France]
Thierry Taris
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Jean-Baptiste Begueret
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 841238
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Jean-Baptiste Begueret  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03811761

Soumis le : mercredi 12 octobre 2022-10:26:42

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-03811761 , version 1 (12-10-2022)

Identifiants

Citer

Adam Waks, Serge Bardy, Olivier Crand, Thierry Taris, Jean-Baptiste Begueret. Novel Built-In Test Equipment for Phase Measurement in Millimeter-Wave Phased Arrays Integrated Circuits With Absolute Phase Measurement Capabilities. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2022, pp.1-14. ⟨10.1109/TMTT.2022.3199461⟩. ⟨hal-03811761⟩

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