DC and low a frequency noise analysis of p channel gate all around vertically stacked silicon nanosheets - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2022
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Dates et versions

hal-03784465 , version 1 (23-09-2022)

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Citer

B. Cretu, Anabela Veloso, Eddy Roger Simoen. DC and low a frequency noise analysis of p channel gate all around vertically stacked silicon nanosheets. Solid-State Electronics, 2022, 194, pp.108360. ⟨10.1016/j.sse.2022.108360⟩. ⟨hal-03784465⟩
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