Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
Laurent Pichon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03776577
Soumis le : mardi 13 septembre 2022-21:14:09
Dernière modification le : mercredi 7 février 2024-13:04:20
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03776577 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2007.07.059
Citer
A. Boukhenoufa, L. Pichon, C. Cordier. Two-dimensional numerical simulations of 1/f noise by GR mechanisms in thin film transistors: Effects of induced defect technology. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (9-11), pp.1419-1423. ⟨10.1016/j.microrel.2007.07.059⟩. ⟨hal-03776577⟩
Collections
8
Consultations
0
Téléchargements