Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2006
Laurent Pichon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03776575
Soumis le : mardi 13 septembre 2022-21:11:55
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Citer
L. Pichon, A. Boukhenoufa, C. Cordier, B. Cretu. Determination of interface state distribution in polysilicon thin film transistors from low-frequency noise measurements: Application to analysis of electrical properties. Journal of Applied Physics, 2006, 100 (5), pp.054504. ⟨10.1063/1.2335395⟩. ⟨hal-03776575⟩
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