Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 2002
Laurent Pichon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03776568
Soumis le : mardi 13 septembre 2022-21:04:39
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03776568 , version 1
- DOI : 10.1016/S0038-1101(01)00324-0
Citer
L. Pichon, A. Mercha, R. Carin, T. Mohammed-Brahim, O. Bonnaud, et al.. Comparison of the electrical behavior in the subthreshold region between laser and solid phase crystallized polysilicon thin film transistors. Solid-State Electronics, 2002, 46 (4), pp.459-466. ⟨10.1016/S0038-1101(01)00324-0⟩. ⟨hal-03776568⟩
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