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Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Feature selection techniques for indirect test and statistical calibration of mm-wave integrated circuits

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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03759492 , version 1 (24-08-2022)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-03759492 , version 1

Citer

Manuel Barragan, Gildas Leger, Florent Cilici, Estelle Lauga-Larroze, Salvador Mir, et al.. Feature selection techniques for indirect test and statistical calibration of mm-wave integrated circuits. 27th European Test Symposium (ETS 2022), May 2022, Barcelona, Spain. ⟨hal-03759492⟩

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