KPFM - Raman spectroscopy coupled technique for the characterization of wide bandgap semiconductor devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

KPFM - Raman spectroscopy coupled technique for the characterization of wide bandgap semiconductor devices

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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03702799 , version 1 (23-06-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03702799 , version 1

Citer

Nicolas Bercu, Mihai Lazar, Olivier Simonetti, Pierre-Michel Adam, Mélanie Brouillard, et al.. KPFM - Raman spectroscopy coupled technique for the characterization of wide bandgap semiconductor devices. 13th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials( ECSCRM2020-2021 ), Oct 2021, Tours, France. ⟨hal-03702799⟩

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