Article Dans Une Revue
Reliability Engineering and System Safety
Année : 2019
Evans Gouno : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03699809
Soumis le : lundi 20 juin 2022-15:26:57
Dernière modification le : vendredi 3 mai 2024-14:06:47
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03699809 , version 1
Citer
Huu Du Nguyen, Evans Gouno. Maximum likelihood and Bayesian inference for common-cause of failure model. Reliability Engineering and System Safety, 2019. ⟨hal-03699809⟩
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