Increased Breakdown Voltage and robustness of Embedded power module - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Increased Breakdown Voltage and robustness of Embedded power module

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03665886

Soumis le : jeudi 12 mai 2022-10:31:31

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03665886 , version 1 (12-05-2022)

Identifiants

Citer

A. Tablati, N. Alayli, F. Arabi, K. El Boubakari, T. Youssef, et al.. Increased Breakdown Voltage and robustness of Embedded power module. 2022 23rd International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), Apr 2022, St Julian, France. pp.1-8, ⟨10.1109/EuroSimE54907.2022.9758892⟩. ⟨hal-03665886⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IMS-BORDEAUX IMS-BORDEAUX-FUSION
19 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More