Low-frequency noise in low temperature unhydrogenated polysilicon thin film transistors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2000

Low-frequency noise in low temperature unhydrogenated polysilicon thin film transistors

A Mercha
  • Fonction : Auteur
J Rhayem
  • Fonction : Auteur
M Valenza
  • Fonction : Auteur
J.M Routoure
  • Fonction : Auteur
R Carin
  • Fonction : Auteur
O Bonnaud
  • Fonction : Auteur
D Rigaud
  • Fonction : Auteur

Dates et versions

hal-03662137 , version 1 (09-05-2022)

Identifiants

Citer

A Mercha, J Rhayem, L Pichon, M Valenza, J.M Routoure, et al.. Low-frequency noise in low temperature unhydrogenated polysilicon thin film transistors. Microelectronics Reliability, 2000, 40 (11), pp.1891-1896. ⟨10.1016/S0026-2714(00)00060-3⟩. ⟨hal-03662137⟩
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