Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2000
Laurent Pichon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03662137
Soumis le : lundi 9 mai 2022-09:53:12
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03662137 , version 1
- DOI : 10.1016/S0026-2714(00)00060-3
Citer
A Mercha, J Rhayem, L Pichon, M Valenza, J.M Routoure, et al.. Low-frequency noise in low temperature unhydrogenated polysilicon thin film transistors. Microelectronics Reliability, 2000, 40 (11), pp.1891-1896. ⟨10.1016/S0026-2714(00)00060-3⟩. ⟨hal-03662137⟩
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