Artefacts in scanning thermal microscopy: nanometre-scale roughess and oxide films down to the native thickness - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Artefacts in scanning thermal microscopy: nanometre-scale roughess and oxide films down to the native thickness

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

Pierre-Olivier Chapuis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03649750

Soumis le : vendredi 22 avril 2022-21:02:57

Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-11:40:22

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03649750 , version 1 (22-04-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03649750 , version 1

Citer

Eloïse Guen, N.J. Kaur, Petr Klapetek, Ravish Rajkumar, Gordon Mills, et al.. Artefacts in scanning thermal microscopy: nanometre-scale roughess and oxide films down to the native thickness. MRS Spring meeting, Symposium "Nanoscal heat transport", Apr 2021, Seattle (remote), United States. ⟨hal-03649750⟩

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