Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) as a local probe of local energy band alignments of Co/organic monolayer/GaAs(001) - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2020

Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) as a local probe of local energy band alignments of Co/organic monolayer/GaAs(001)

Maryam Sadeghiyan Dehaghani
Institut de Physique de Rennes
CV
Sophie Guézo
Institut de Physique de Rennes
CV
Alexandra Junay
Institut de Physique de Rennes
Pascal Turban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 896
  • IdHAL : pturban
Institut de Physique de Rennes
Bruno Lépine
Institut de Physique de Rennes
CV
Gabriel Delhaye
Institut de Physique de Rennes
Sylvain Tricot
Institut de Physique de Rennes
CV
Arnaud Le Pottier
Institut de Physique de Rennes
Soraya Ababou-Girard
Institut de Physique de Rennes
CV
F. Solal
Institut de Physique de Rennes

Domaines

Matière Condensée [cond-mat]

Sophie Guézo  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03557421

Soumis le : vendredi 4 février 2022-12:14:27

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03557421 , version 1 (04-02-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03557421 , version 1

Citer

Maryam Sadeghiyan Dehaghani, Sophie Guézo, Alexandra Junay, Pascal Turban, Bruno Lépine, et al.. Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) as a local probe of local energy band alignments of Co/organic monolayer/GaAs(001). 34ème édition des Journées Surfaces et Interfaces, Jan 2020, Paris, France. ⟨hal-03557421⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-RENNES1 CNRS OSUR IPR IPR-MN UR1-UFR-SPM UNIV-RENNES UR1-MMS
39 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More