Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) as a local probe of local energy band alignments of Co/organic monolayer/GaAs(001) - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2020

Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) as a local probe of local energy band alignments of Co/organic monolayer/GaAs(001)

Sophie Guézo
Alexandra Junay
Pascal Turban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 896
  • IdHAL : pturban
Bruno Lépine
Gabriel Delhaye
Sylvain Tricot
Arnaud Le Pottier
F. Solal
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03557421 , version 1 (04-02-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03557421 , version 1

Citer

Maryam Sadeghiyan Dehaghani, Sophie Guézo, Alexandra Junay, Pascal Turban, Bruno Lépine, et al.. Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) as a local probe of local energy band alignments of Co/organic monolayer/GaAs(001). 34ème édition des Journées Surfaces et Interfaces, Jan 2020, Paris, France. ⟨hal-03557421⟩
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