Characterization of CMOS metal based dielectric loaded surface plasmon waveguides at telecom wavelengths - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Optics Express Année : 2017

Characterization of CMOS metal based dielectric loaded surface plasmon waveguides at telecom wavelengths

J.-C. Weeber
  • Fonction : Auteur
J. Arocas
  • Fonction : Auteur
L. Markey
S. Viarbitskaya
  • Fonction : Auteur
G. Colas-Des-Francs
  • Fonction : Auteur
C. Hoessbacher
  • Fonction : Auteur
U. Koch
  • Fonction : Auteur
J. Leuthold
  • Fonction : Auteur
K. Rohracher
  • Fonction : Auteur
A. Giesecke
  • Fonction : Auteur
C. Porschatis
  • Fonction : Auteur
T. Wahlbrink
  • Fonction : Auteur
B. Chmielak
  • Fonction : Auteur
D. Tsiokos
  • Fonction : Auteur

Dates et versions

hal-03546196 , version 1 (27-01-2022)

Identifiants

Citer

J.-C. Weeber, J. Arocas, O. Heintz, L. Markey, S. Viarbitskaya, et al.. Characterization of CMOS metal based dielectric loaded surface plasmon waveguides at telecom wavelengths. Optics Express, 2017, 25 (1), pp.394. ⟨10.1364/OE.25.000394⟩. ⟨hal-03546196⟩
11 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More