Feasibility of sub-micron XRF combined to Scanning probe Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Feasibility of sub-micron XRF combined to Scanning probe Microscopy

M. Dehlinger
  • Fonction : Auteur
C. Fauquet
F. Jandard
  • Fonction : Auteur
A. Bjeoumikhov
  • Fonction : Auteur
A. Erko
  • Fonction : Auteur
I. Zizak
  • Fonction : Auteur
S. Ferrero
D. Pailharey
  • Fonction : Auteur
B. Dahmani
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03523734 , version 1 (12-01-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03523734 , version 1

Citer

D. Tonneau, M. Dehlinger, C. Fauquet, F. Jandard, A. Bjeoumikhov, et al.. Feasibility of sub-micron XRF combined to Scanning probe Microscopy. DENVER X-RAY CONFERENCE DXC2011, Aug 2011, Colorado Springs, United States. pp.216-227. ⟨hal-03523734⟩
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