Feasibility of sub-micron XRF combined to Scanning probe Microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Feasibility of sub-micron XRF combined to Scanning probe Microscopy

D. Tonneau
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
M. Dehlinger
  • Fonction : Auteur
C. Fauquet
F. Jandard
  • Fonction : Auteur
A. Bjeoumikhov
  • Fonction : Auteur
A. Erko
  • Fonction : Auteur
I. Zizak
  • Fonction : Auteur
S. Ferrero
D. Pailharey
  • Fonction : Auteur
B. Dahmani
  • Fonction : Auteur

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Didier Tonneau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03523734

Soumis le : mercredi 12 janvier 2022-19:50:42

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03523734 , version 1 (12-01-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03523734 , version 1

Citer

D. Tonneau, M. Dehlinger, C. Fauquet, F. Jandard, A. Bjeoumikhov, et al.. Feasibility of sub-micron XRF combined to Scanning probe Microscopy. DENVER X-RAY CONFERENCE DXC2011, Aug 2011, Colorado Springs, United States. pp.216-227. ⟨hal-03523734⟩

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