STM Studies : Spatial Resolution Limits to Fit Observations in Nanotechnology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 2000

STM Studies : Spatial Resolution Limits to Fit Observations in Nanotechnology

P. D. Szkutnik
  • Fonction : Auteur
A. Piednoir
  • Fonction : Auteur
A. Ronda
  • Fonction : Auteur
F. Marchi
  • Fonction : Auteur
H. Dallaporta
  • Fonction : Auteur
M. Hanbücken
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03523715 , version 1 (12-01-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03523715 , version 1

Citer

D. Tonneau, P. D. Szkutnik, A. Piednoir, A. Ronda, F. Marchi, et al.. STM Studies : Spatial Resolution Limits to Fit Observations in Nanotechnology. Applied Surface Science, 2000, 164, pp.169-174. ⟨hal-03523715⟩
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