Studying phase change memory devices by coupling scanning precession electron diffraction and energy dispersive X-ray analysis
Domaines
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Licence |
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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https://hal.science/hal-03493618
Soumis le : lundi 17 octobre 2022-08:27:27
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-19:46:49
Archivage à long terme le : mercredi 18 janvier 2023-19:02:10