Studying phase change memory devices by coupling scanning precession electron diffraction and energy dispersive X-ray analysis
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Sciences de l'ingénieur [physics]| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Article Dans Une Revue
Acta Materialia
Année : 2020
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https://hal.science/hal-03493618
Soumis le : lundi 17 octobre 2022-08:27:27
Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:16:05
Archivage à long terme le : mercredi 18 janvier 2023-19:02:10
Dates et versions
Licence
Identifiants
- HAL Id : hal-03493618 , version 1
- DOI : 10.1016/j.actamat.2020.09.033
- PII : S1359-6454(20)30727-8
Citer
Loïc Henry, Nicolas Bernier, Martin Jacob, Gabriele Navarro, Laurent Clément, et al.. Studying phase change memory devices by coupling scanning precession electron diffraction and energy dispersive X-ray analysis. Acta Materialia, 2020, 201, pp.72 - 78. ⟨10.1016/j.actamat.2020.09.033⟩. ⟨hal-03493618⟩
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