Studying phase change memory devices by coupling scanning precession electron diffraction and energy dispersive X-ray analysis - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Acta Materialia Année : 2020

Studying phase change memory devices by coupling scanning precession electron diffraction and energy dispersive X-ray analysis

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hal-03493618 , version 1 (17-10-2022)

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Loïc Henry, Nicolas Bernier, Martin Jacob, Gabriele Navarro, Laurent Clément, et al.. Studying phase change memory devices by coupling scanning precession electron diffraction and energy dispersive X-ray analysis. Acta Materialia, 2020, 201, pp.72 - 78. ⟨10.1016/j.actamat.2020.09.033⟩. ⟨hal-03493618⟩
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