DNA adsorption at functionalized Si/buffer interfaces studied by x-ray reflectivity - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Chemical Physics Année : 2008

DNA adsorption at functionalized Si/buffer interfaces studied by x-ray reflectivity

C. Douarche
R. Cortès
  • Fonction : Auteur
S. Roser
  • Fonction : Auteur
A. Braslau
  • Fonction : Auteur

Domaines

Matériaux Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03452267 , version 1 (26-11-2021)

Identifiants

Citer

C. Douarche, R. Cortès, C. Henry de Villeneuve, S. Roser, A. Braslau. DNA adsorption at functionalized Si/buffer interfaces studied by x-ray reflectivity. Journal of Chemical Physics, 2008, 128 (22), pp.225108. ⟨10.1063/1.2927256⟩. ⟨hal-03452267⟩
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