Caractérisation de la rigidité et étude de la rupture de plaques en silicium de qualité photovoltaïque - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Caractérisation de la rigidité et étude de la rupture de plaques en silicium de qualité photovoltaïque

Lv Zhao
  • Fonction : Auteur
Daniel Nelias
Anne Maynadier
  • Fonction : Auteur

Résumé

Le travail présenté consiste à caractériser la rigidité et étudier la rupture de plaques en silicium multi-cristallin de qualité photovoltaïque. Les éprouvettes sont obtenues par découpe au laser de wafers de silicium provenant de deux processus de fabrication différents, soit MCSI et RST. En s'appuyant sur des essais de flexion à 4-points, des moyens expérimentaux et numériques sont mis en place en parallèle pour aboutir à une caractérisation du module de Young adéquate. Les comportements à rupture sous flexion, soit le mode de rupture et la cause de l'amorçage, sont étudiés à l'aide d'imagerie rapide et de fractographie.
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Dates et versions

hal-03446492 , version 1 (24-11-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03446492 , version 1

Citer

Lv Zhao, Daniel Nelias, Anne Maynadier. Caractérisation de la rigidité et étude de la rupture de plaques en silicium de qualité photovoltaïque. CFM 2015 - 22ème Congrès Français de Mécanique, Aug 2015, Lyon, France. ⟨hal-03446492⟩

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