Article Dans Une Revue
Quality and Reliability Engineering International
Année : 2007
Evans Gouno : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03436655
Soumis le : vendredi 19 novembre 2021-14:32:17
Dernière modification le : jeudi 14 mars 2024-03:14:49
Citer
Evans Gouno. Optimum step-stress for temperature accelerated life testing. Quality and Reliability Engineering International, 2007, 23 (8), pp.915-924. ⟨10.1002/qre.853⟩. ⟨hal-03436655⟩
Collections
15
Consultations
0
Téléchargements