Design and Test of Crab-Shape Negative Group Delay Circuit

Blaise Ravelo; Fayu Wan; Sebastien Lallechere; Glauco Fontgalland; Wenceslas Rahajandraibe

doi:10.1109/MDAT.2021.3053556

Article Dans Une Revue IEEE Design & Test Année : 2021

Design and Test of Crab-Shape Negative Group Delay Circuit

, , (1) , ,

1

Blaise Ravelo

Fonction : Auteur
PersonId : 803945
ORCID : 0000-0001-7334-5016
IdRef : 133610926

Fayu Wan

Fonction : Auteur
PersonId : 803944
ORCID : 0000-0002-5626-6065

Sebastien Lallechere

Fonction : Auteur
PersonId : 740097
IdHAL : sebastien-lallechere
ORCID : 0000-0001-7517-672X
IdRef : 113965710

Institut Pascal

Glauco Fontgalland

Fonction : Auteur
PersonId : 759570
ORCID : 0000-0003-3506-3522

Wenceslas Rahajandraibe

Fonction : Auteur
PersonId : 751037
IdHAL : rahajandraibe-wenceslas
ORCID : 0000-0003-1508-5927

Domaines

Electromagnétisme

SEBASTIEN LALLECHERE : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03274868

Soumis le : mercredi 30 juin 2021-14:59:07

Dernière modification le : lundi 30 octobre 2023-16:38:04

Dates et versions

hal-03274868 , version 1 (30-06-2021)

Identifiants

HAL Id : hal-03274868 , version 1
DOI : 10.1109/MDAT.2021.3053556

Citer

Blaise Ravelo, Fayu Wan, Sebastien Lallechere, Glauco Fontgalland, Wenceslas Rahajandraibe. Design and Test of Crab-Shape Negative Group Delay Circuit. IEEE Design & Test, 2021, pp.1-1. ⟨10.1109/MDAT.2021.3053556⟩. ⟨hal-03274868⟩

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