Article Dans Une Revue
International Journal of Critical Computer-Based Systems
Année : 2021
Yves Ledru : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03257052
Soumis le : jeudi 10 juin 2021-16:19:43
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:06:01
Citer
Salim Chehida, Yves Ledru, Yoann Blein, German Eduardo Vega Baez. An SMT-Based Approach for Generating Trace Examples and Counter-examples of Parametric Properties. International Journal of Critical Computer-Based Systems, 2021, ⟨10.1504/IJCCBS.2021.117997⟩. ⟨hal-03257052⟩
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