Fast Crack Profile Reconstitution Using Arrayed Eddy Current Sensor Modeling - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03212798 , version 1 (30-04-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03212798 , version 1

Citer

Abdelhalim Zaoui, Hocine Menana, Mouloud Feliachi, Gerard Berthiau. Fast Crack Profile Reconstitution Using Arrayed Eddy Current Sensor Modeling. The 13th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation (IEEE CEFC 2008), May 2008, Athens, Greece. ⟨hal-03212798⟩
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