Frequency domain analysis of 3ω-scanning thermal microscope probe—Application to tip/surface thermal interface measurements in vacuum environment
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Licence |
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Soumis le : vendredi 22 octobre 2021-01:16:25
Dernière modification le : mercredi 24 septembre 2025-13:04:29
Archivage à long terme le : dimanche 23 janvier 2022-18:06:47