Frequency domain analysis of 3ω-scanning thermal microscope probe—Application to tip/surface thermal interface measurements in vacuum environment - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2021

Frequency domain analysis of 3ω-scanning thermal microscope probe—Application to tip/surface thermal interface measurements in vacuum environment

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Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
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Soumis le : vendredi 22 octobre 2021-01:16:25

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hal-03129861 , version 1 (22-10-2021)

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Citer

Gilles Pernot, Hadrien Chaynes, Anas A Metjari, M. Weber, Mykola Isaiev, et al.. Frequency domain analysis of 3ω-scanning thermal microscope probe—Application to tip/surface thermal interface measurements in vacuum environment. Journal of Applied Physics, 2021, 129 (5), pp.055105. ⟨10.1063/5.0020975⟩. ⟨hal-03129861⟩

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