Embedded Memory Test - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2020
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03111316 , version 1 (15-01-2021)

Identifiants

Citer

Hassen Aziza, Alberto Bosio. Embedded Memory Test. Silicon Systems for Wireless LAN, World Scientific, pp.387-404, 2020, ⟨10.1142/9789811210723_0015⟩. ⟨hal-03111316⟩
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