Cryogenic Operation of Thin-Film FDSOI nMOS Transistors: The Effect of Back Bias on Drain Current and Transconductance
M. Casse
(1)
,
B. Cardoso Paz
(1)
,
G. Ghibaudo
(2)
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T. Poiroux
(1)
,
S. Barraud
(1)
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M. Vinet
(1)
,
S. de Franceschi
(3)
,
Tristan Meunier
(4)
,
F. Gaillard
(1)
1
LETI -
Laboratoire d'électronique et des technologies de l'Information [Sfax]
2 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
3 CEA GRENOBLE - Commissariat à l'Énergie Atomique (CEA) DRMFC
4 NEEL - QuantECA - Circuits électroniques quantiques Alpes
2 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
3 CEA GRENOBLE - Commissariat à l'Énergie Atomique (CEA) DRMFC
4 NEEL - QuantECA - Circuits électroniques quantiques Alpes
G. Ghibaudo
- Fonction : Auteur
- PersonId : 170596
- IdHAL : gerard-ghibaudo
- ORCID : 0000-0001-9901-0679
- IdRef : 069253099
M. Vinet
- Fonction : Auteur
- PersonId : 756257
- ORCID : 0000-0001-6757-295X
S. de Franceschi
- Fonction : Auteur
- PersonId : 173274
- IdHAL : silvano-de-franceschi
- ORCID : 0000-0002-1347-9693
- IdRef : 155550314
Tristan Meunier
- Fonction : Auteur
- PersonId : 742176
- IdHAL : tristan-meunier
F. Gaillard
- Fonction : Auteur
- PersonId : 10572
- IdHAL : francois-gaillard