Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2020
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Dates et versions

hal-02991445 , version 1 (06-11-2020)

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Citer

T.A. Oproglidis, D.H. Tassis, A. Tsormpatzoglou, G. Ghibaudo, C.A. Dimitriadis. Drain current local variability analysis in nanoscale junctionless FinFETs utilizing a compact model. Solid-State Electronics, 2020, 170, pp.107835. ⟨10.1016/j.sse.2020.107835⟩. ⟨hal-02991445⟩
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