Article Dans Une Revue
IEEE Electron Device Letters
Année : 2020
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https://hal.science/hal-02961016
Soumis le : jeudi 8 octobre 2020-10:15:00
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-18:58:13
Citer
Melissa Arabi, Xavier Garros, Jacques Cluzel, Mustapha Rafik, Xavier Federspiel, et al.. A New Direct Measurement Method of Time Dependent Dielectric Breakdown at High Frequency. IEEE Electron Device Letters, 2020, 41 (10), pp.1460-1463. ⟨10.1109/LED.2020.3016383⟩. ⟨hal-02961016⟩
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