Article Dans Une Revue IEEE Electron Device Letters Année : 2020

A New Direct Measurement Method of Time Dependent Dielectric Breakdown at High Frequency

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02961016 , version 1 (08-10-2020)

Identifiants

Citer

Melissa Arabi, Xavier Garros, Jacques Cluzel, Mustapha Rafik, Xavier Federspiel, et al.. A New Direct Measurement Method of Time Dependent Dielectric Breakdown at High Frequency. IEEE Electron Device Letters, 2020, 41 (10), pp.1460-1463. ⟨10.1109/LED.2020.3016383⟩. ⟨hal-02961016⟩
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