Article Dans Une Revue
Advanced Device Materials
Année : 2015
Ngoc Diep Lai : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02955952
Soumis le : vendredi 2 octobre 2020-12:04:12
Dernière modification le : lundi 12 février 2024-12:53:50
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02955952 , version 1
- DOI : 10.1179/2055031614Y.0000000002
Citer
Qinggele Li, Isabelle Ledoux-Rak, Ngoc Diep Lai. Influence of incident beam polarization on intensity and polarization distributions of tight focusing spot. Advanced Device Materials, 2015, 1 (1), pp.4-10. ⟨10.1179/2055031614Y.0000000002⟩. ⟨hal-02955952⟩
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