Communication Dans Un Congrès Année : 2016
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hal-02952151 , version 1 (29-09-2020)

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Citer

Lionel Trojman, Juan Acosta, Mario Ortega, Luis-Miguel Procel. Statistical study of SiON short MOSFET under Channel Hot Carrier stress. 2016 IEEE ANDESCON, Oct 2016, Arequipa, Peru. pp.1-5, ⟨10.1109/ANDESCON.2016.7836238⟩. ⟨hal-02952151⟩
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