Reliability analysis of NAND-like spintronic memory - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2019

Reliability analysis of NAND-like spintronic memory

N. Maciel
  • Fonction : Auteur
E. C. Marques
  • Fonction : Auteur
H. Cai
  • Fonction : Auteur
J. Yang
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hal-02941340 , version 1 (21-12-2021)

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N. Maciel, E. C. Marques, L. A.B. Naviner, H. Cai, J. Yang. Reliability analysis of NAND-like spintronic memory. Microelectronics Reliability, 2019, 100-101, pp.113332. ⟨10.1016/j.microrel.2019.06.024⟩. ⟨hal-02941340⟩
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