Reliability analysis of NAND-like spintronic memory
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Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2019
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https://hal.science/hal-02941340
Soumis le : mardi 21 décembre 2021-12:29:34
Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04
Archivage à long terme le : mercredi 23 mars 2022-10:18:45
Dates et versions
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Identifiants
- HAL Id : hal-02941340 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2019.06.024
- PII : S0026-2714(19)30496-2
Citer
N. Maciel, E. C. Marques, L. A.B. Naviner, H. Cai, J. Yang. Reliability analysis of NAND-like spintronic memory. Microelectronics Reliability, 2019, 100-101, pp.113332. ⟨10.1016/j.microrel.2019.06.024⟩. ⟨hal-02941340⟩
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