Article Dans Une Revue
Journal of Raman Spectroscopy
Année : 2009
Yannick Guhel : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02936064
Soumis le : vendredi 11 septembre 2020-00:13:08
Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-14:14:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02936064 , version 1
Citer
Y. Guhel, M.T. Ta, J. Bernard, B. Boudart, J.C. Pesant. ‘Raman characterization before and after rapid thermal annealing of CeO2 thin films grown by rf sputtering on (111) Si’. Journal of Raman Spectroscopy, 2009. ⟨hal-02936064⟩
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