Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2008
Yannick Guhel : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02936063
Soumis le : vendredi 11 septembre 2020-00:11:08
Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-14:14:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02936063 , version 1
Citer
M.T. Ta, D. Briand, Y. Guhel, J. Bernard, J.C. Pesant, et al.. ‘Growth and structural characterization of cerium oxide thin films realized on Si(111) substrates by on-axis r.f. magnetron sputtering’. Thin Solid Films, 2008. ⟨hal-02936063⟩
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