‘Growth and structural characterization of cerium oxide thin films realized on Si(111) substrates by on-axis r.f. magnetron sputtering’ - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2008

‘Growth and structural characterization of cerium oxide thin films realized on Si(111) substrates by on-axis r.f. magnetron sputtering’

M.T. Ta
  • Fonction : Auteur
D. Briand
  • Fonction : Auteur
Y. Guhel
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg
J. Bernard
  • Fonction : Auteur
J.C. Pesant
  • Fonction : Auteur
B. Boudart
  • Fonction : Auteur

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Yannick Guhel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02936063

Soumis le : vendredi 11 septembre 2020-00:11:08

Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-14:14:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02936063 , version 1 (11-09-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02936063 , version 1

Citer

M.T. Ta, D. Briand, Y. Guhel, J. Bernard, J.C. Pesant, et al.. ‘Growth and structural characterization of cerium oxide thin films realized on Si(111) substrates by on-axis r.f. magnetron sputtering’. Thin Solid Films, 2008. ⟨hal-02936063⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

COMUE-NORMANDIE UNICAEN LUSAC
19 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More