Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Bogdan Cretu : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02935054
Soumis le : jeudi 10 septembre 2020-07:02:10
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02935054 , version 1
- DOI : 10.1109/EUROSOI-ULIS45800.2019.9041918
Citer
D. Boudier, B Cretu, E. Simoen, G. Hellings, T. Schram, et al.. Low frequency noise analysis on Si/SiGe superlattice I/O n-channel FinFETs. 2019 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), Apr 2019, Grenoble, France. pp.1-4, ⟨10.1109/EUROSOI-ULIS45800.2019.9041918⟩. ⟨hal-02935054⟩
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