Study of complex waveguide structure using soft X-ray reflectivity technique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue AIP Conference Proceedings Année : 2017
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Dates et versions

hal-02925865 , version 1 (31-08-2020)

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Citer

Amol Singh, Mohammed H. Modi, R. Dhawan, P. Jonnard, K. Le Guen, et al.. Study of complex waveguide structure using soft X-ray reflectivity technique. AIP Conference Proceedings, 2017, pp.080093. ⟨10.1063/1.4980553⟩. ⟨hal-02925865⟩
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