Transmission electron microscopy and high-resolution electron microscopy of growth defects in La 2- x Sr x CuO 4 thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Philosophical Magazine a Année : 1997
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hal-02918311 , version 1 (20-08-2020)

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A. Alimoussa, Marie-José Casanove, J. Hutchison. Transmission electron microscopy and high-resolution electron microscopy of growth defects in La 2- x Sr x CuO 4 thin films. Philosophical Magazine a, 1997, 76 (5), pp.907-919. ⟨10.1080/01418619708200006⟩. ⟨hal-02918311⟩
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