Quantitative analysis of strain field in thin films from HRTEM micrographs - Archive ouverte HAL

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Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 1998

Quantitative analysis of strain field in thin films from HRTEM micrographs

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Etienne Snoeck

Fonction : Auteur
PersonId : 11430
IdHAL : etienne-snoeck
ORCID : 0000-0002-1735-0942
IdRef : 031726828

Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales

B Warot

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H. Ardhuin

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A Rocher

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PersonId : 18522
IdHAL : marie-jose-casanove
ORCID : 0000-0002-5239-7076
IdRef : 032157290

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ORCID : 0000-0002-9099-0129
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Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Marie-Jose CASANOVE : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02918291

Soumis le : jeudi 20 août 2020-12:01:11

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:11

Dates et versions

hal-02918291 , version 1 (20-08-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02918291 , version 1
DOI : 10.1016/S0040-6090(97)01113-9

Citer

Etienne Snoeck, B Warot, H. Ardhuin, A Rocher, Marie-José Casanove, et al.. Quantitative analysis of strain field in thin films from HRTEM micrographs. Thin Solid Films, 1998, 319 (1-2), pp.157-162. ⟨10.1016/S0040-6090(97)01113-9⟩. ⟨hal-02918291⟩

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