Quantitative analysis of strain field in thin films from HRTEM micrographs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 1998

Quantitative analysis of strain field in thin films from HRTEM micrographs

Dates et versions

hal-02918291 , version 1 (20-08-2020)

Identifiants

Citer

Etienne Snoeck, B Warot, H. Ardhuin, A Rocher, Marie-José Casanove, et al.. Quantitative analysis of strain field in thin films from HRTEM micrographs. Thin Solid Films, 1998, 319 (1-2), pp.157-162. ⟨10.1016/S0040-6090(97)01113-9⟩. ⟨hal-02918291⟩
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