Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2017
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https://hal.science/hal-02735782
Soumis le : mercredi 10 juillet 2024-16:18:42
Dernière modification le : mardi 17 décembre 2024-15:36:02
Citer
Xavier Heiligenstein, Perrine Paul-Gilloteaux, Martin Belle, Graca Raposo, Jean Salamero. eC-CLEM: Flexible Multidimensional Registration Software for Correlative Microscopies with Refined Accuracy Mapping. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (S1), pp.360-361. ⟨10.1017/S1431927617002483⟩. ⟨hal-02735782⟩
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